性能優(yōu)勢
科研級CMOS檢測器,全元(yuán)素分(fèn)析,開創PPM級元素分析新紀元
噪聲(shēng)低 科研級感光元件噪聲小,抗幹擾強(qiáng),具備防光暈技(jì)術
抗幹擾(rǎo) CMOS探測器集(jí)成度高,可避免外(wài)部電路引(yǐn)入(rù)噪聲(shēng)
讀取速(sù)度快 采(cǎi)用OEO(Optimal Element-Oriented)技術,像素信號單獨讀取,實現參數(shù)優化設計
紫外(wài)響應高 超高紫外響應靈敏度,無需鍍膜,實現非金屬元素(N,C,S,P)分析,效果更(gèng)優
經典雙光室設計,光譜範圍寬,元素分辨率有保證
獨立設計(jì)的紫外光學(xué)係統,激發台直接(jiē)采光,專(zhuān)為N,C,S,P等紫外元素(sù)測量設計,刻線數多,分辨率高,兼顧高(gāo)分(fèn)辨和譜線範圍優勢,譜線範圍寬,分析元素多,性能好
單獨設計的紫外光學(xué)係統,體積小,結構簡單(dān),無死角,采用多孔吹掃技術,可將空氣迅速吹掃幹淨,確保元素分析效果
穩定性升級,重新(xīn)定義光學產品穩定性
壓鑄(zhù)鋁合金整(zhěng)體光室,4級(jí)消除應力處理
光室(shì)恒溫設計,保證光譜位置(zhì)長期穩定,不漂移
氣流路的精確(què)設計,一切為了結果更穩定
RTMC光譜優化技術,帶來更穩定的體驗
全數字脈衝光源,自動選擇能量保證分析的準確性與重複性
易用性(xìng)升級,給用戶更簡單的(de)使用體驗
優質(zhì)硬(yìng)件與(yǔ)特(tè)定算法的結合,多(duō)重穩定保障(zhàng),更好(hǎo)地監控儀器運(yùn)行狀(zhuàng)態,提升分(fèn)析效果,減少校準頻率(lǜ)
支持(chí)全譜分析檢測,拓展性更高。增加分析基體和元素無需增加硬件,通過軟件即可擴展分析範圍,使用(yòng)更靈活
智(zhì)能曲線功能可滿足對所有材料的分析需(xū)求,真(zhēn)正實現未知樣品分析,無需糾結模型選擇,操作更加簡便
友好的(de)人(rén)機交互設(shè)計,軟件主(zhǔ)界麵簡潔清晰,圖形化(huà)顯示,短時間即(jí)可學會並熟練操作軟件
新增遠程維護功能,可遠程升級固件程序,遠程檢查儀器狀態,對儀器生命周期健康(kāng)負責
應用領(lǐng)域
應用於冶金(jīn)、鑄造(zào)、機械加工、鑄造、金屬材料(liào)科研、航空航(háng)天(tiān)、造船、汽車(chē)、海(hǎi)關檢驗、第三(sān)方檢測等諸多領域。
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